13-14 septiembre (18 hrs)
22-23 septiembre (19 hrs)
Conductoras y no conductoras
13-14 septiembre (18 hrs)
APOYO A LA INVESTIGACIÓN E INDUSTRIA CON SERVICIOS DE CARACTERIZACIÓN DE MATERIALES POR XPS
¿QUÉ ES XPS?
La técnica de espectroscopia de electrones fotoemitidos (XPS, por sus siglas en inglés) es actualmente una de las más solicitadas para el análisis químico debido a que puede aplicarse a una gran variedad de materiales y además por su alta senstividad superficial. Se obtiene información de las primeros 10nm de las capas más externas de materiales sólidos, con un límite de detección que aumenta con el número atómico del elemento, siendo alrededor de 0.1-0.5% atómico. La técnica proporciona datos sobre la composición elemental, composición química, estados de oxidación y estados electrónicos. Este tipo de información es altamente relevante para el desarrollo de nuevos materiales en el área de investigación así como para la solución de problemas a nivel industrial. En el IPICYT contamos con un sistema de XPS de nueva generación (PHI 5000 VersaProbe II) con el cual se apoya y complementa la investigación en varias de las disciplinas que cubre esta institución, así como de instituciones externas y de carácter industrial.
Su funcionamiento se basa en el efecto fotoeléctrico. Un haz de fotones de rayos-X con energía conocida incide sobre el material excitando los electrones de los niveles más profundos. La energía incidente excede a la energía de enlace y los electrones salen liberados con una energía cinética que es detectada y convertida en una señal digital (espectro). Así, a través de esta relación, se obtiene información de la energía de enlace de los elementos que componen la superficie.
¿cómo funciona?
El valor de h es conocido y en este caso es de 1486.7 eV (Al-K ). KE es la energía cinética detectada por el analizador y BE es la energía de enlace del electrón o fotoelectrón, como se le llama debido al proceso por el que fue liberado.
Fig.1 Proceso de fotoemisión
Fig.2 Principio de XPS
SENSITIVIDAD
La profundidad de interacción del haz de rayos-X con el material es del orden de micrómetros, sin embargo solo los electrones que se encuentran en las primeras 20 monocapas atómicas (~ 10nm) logran escapar al sistema de vacío sin perder su energía cinética.
Estos fotolectrones son los que se consideran para el cálculo de composición elemental y de estados químicos. Los fotoelectrones de esta región que perdieron cierta energía durante su viaje por el material y que también lograron ser detectados son lo que forman el background característico de los espectros de XPS.
Noticias y eventos
13 y 14 de septiembre
Septiembre 28, 2015
Agosto 04-07, 2015
Agosto 3, 2015
Fig.3 Interacción de los rayos-X con el material